附加偏置电场对电弧离子镀 TiN 薄膜结构和性能的影响 *

作者:武英桐,李晓敏,白 睿,王东伟,王 宇,黄美东(天津师范大学物理与材料科学学院,天津 300387)

关键词:电弧离子镀;偏置电场;表面形貌;显微硬度;结合力

摘要:

为了改善电弧离子镀薄膜表面存在的大颗粒污染问题,在真空室内附加一个与靶 - 基连线垂 直的偏置电场,探究不同偏置电压对薄膜表面形貌、微观结构和力学性能的影响规律。结果表明,不同电压下 TiN 薄膜均呈晶态,沿(111)晶面择优生长,薄膜的微观结构受偏置电场的影响很小。随偏置电压增大,薄膜的结合力、显微硬度呈现先增后减趋势,在 24V 时均达最大值,电压进一步增大到 32V 时,结合力和显微硬度反而有少许下降。偏置电场可以有效改善薄膜表面形貌,当电压为 32V 时,薄膜表面质量最好,摩擦因数仅为 0.115。

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