电子轰击离子源（Electron Impact Ion Source，EI 源）作为小型化磁质谱仪的核心部件之一，其性能指标直接影响质谱仪器的质量分辨率与灵敏度。本文对小型化 EI 源的结构和电压驱动方式进行了改进和优化，旨在提升 EI 源的综合性能。采用离子光学模拟软件 simion-8.0 构建了小型化 EI 源的三维模型，重点研究几何参数、离子推斥极结构以及驱动 EI 源的电压参数对离子聚焦性能和离子传输效率的影响。通过模拟离子的运动轨迹，得到离子的运动参数，同时利用相空间法，分析 EI 源的离子聚焦效果和离子传输效率。理论模拟结果表明：当聚焦极与电离室距离 S 1 为 1.2mm，主狭缝与聚焦极距离 S 2 与 S 1 的比值为 1.6，主狭缝缝宽 S 3 为 2mm，推斥极为圆弧结构，且聚焦透镜和主狭缝透镜通过扫描高压恒压跟踪驱动方式时，离子的位置聚焦半径小于 0.08mm，离子传输效率可达到 99%以上。研究表明：经过几何参数、推斥极结构优化和电压驱动方式改进后的 EI 源，可大幅提高离子传输效率，提升聚焦效果，并能在全质量范围内保持离子聚焦性能稳定，上述特性使其在小型化磁质谱仪开发中具有显著优势。